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Auswahl elektronischer Bauteile: Wie SiliconExpert Ihnen hilft, bessere Entscheidungen bei der Auswahl elektronischer Bauteile zu treffen

White Paper über die Probleme bei der Auswahl falscher Bauteile und die Lösungen von SiliconExpert, die eine optimale Bauteilauswahl ermöglichen.

Teilauswahl White Paper Zusammenfassung

Die Auswahl von Bauteilen sowie die Auswahl des richtigen Bauteils zur richtigen Zeit ist einer der wichtigsten Aspekte Ihres Unternehmens. Leider verwenden viele Elektronikhersteller keine standardisierte, messbare Methode zur Auswahl elektronischer Bauteile. Stattdessen verwenden sie unzuverlässige und suboptimale Management-Tools wie Microsoft Excel in der kritischsten Vorentwicklungsphase. Das Fehlen eines standardisierten und messbaren Bauteilauswahlprozesses führt dazu, dass Unternehmen:

Falsche Entscheidungen bei der Teileauswahl treffen
Zeit, Geld und Ressourcen verschwenden
Ineffizienter Umgang mit Veralterungsproblemen

Wir wollen hier die Probleme, die mit einer falschen Bauteilauswahl verbunden sind, untersuchen und dynamische und intuitive Lösungen von SiliconExpert vorstellen, die entwickelt wurden, um diese Herausforderungen zu lindern.

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"Die Verwaltung und Aktualisierung unserer Komponentendatenbank war eine gewaltige Aufgabe. Unsere Ingenieure benötigen die neuesten Informationen über die elektronischen Komponenten, die für unsere Produkte ausgewählt werden, und jede Lücke in der Verfügbarkeit oder Aktualität der Daten ist einfach nicht akzeptabel. Ohne die Tools von SiliconExpert würden wir immer noch in der Steinzeit leben."

John Starr | Bauteil-Ingenieur | Intermec, Inc.

"Bei der Normalisierung der Prozesse erkannten unsere Teams SiliconExpert als das Tool, das uns in der Phase der Datenumstellung viel mehr als erwartet geholfen hat. Mit dem Zugang zu einer beispiellosen Menge an unverfälschten und vollständigen Bauteildaten haben wir sofort erkannt, wie viel Zeit und Geld allein mit dem BOM Manager eingespart werden kann. Alles in allem war SiliconExpert die schnellste und beste Lösung."

Erwan Rivet | Direktor für Technik | Honeywell

In der Vergangenheit beschränkten sich die Daten zur Überalterung auf die Statistiken "verfügbar/nicht verfügbar", die direkt von den Teileherstellern bereitgestellt wurden. Die Auswahl der Teile erfolgte mit wenig bis gar keinem Einblick in ihren Veralterungslebenszyklus, so dass die Wahrscheinlichkeit, ein bald veraltetes Teil auszuwählen, gefährlich hoch war. Wir konnten einige Arbeitsstunden einsparen, da wir, anstatt uns an verschiedene Quellen zu wenden, was sehr zeitaufwändig ist, oft einfach zu SiliconExpert gehen können und die benötigten Daten sofort erhalten.

Lenny Tosto | Ingenieur | Northrop Grumman