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Auswahl elektronischer Teile: Wie SiliconExpert Ihnen hilft, bessere Entscheidungen bei der Auswahl elektronischer Bauteile zu treffen

White Paper über die Probleme bei der Auswahl falscher Teile und die Lösungen von SiliconExpert , die eine optimale Teileauswahl ermöglichen.

Teilauswahl White Paper Zusammenfassung

Die Auswahl von Bauteilen sowie die Auswahl des richtigen Bauteils zur richtigen Zeit ist einer der wichtigsten Aspekte Ihres Unternehmens. Leider verwenden viele Elektronikhersteller keine standardisierte, messbare Methode zur Auswahl elektronischer Bauteile. Stattdessen verwenden sie unzuverlässige und suboptimale Management-Tools wie Microsoft Excel in der kritischsten Vorentwicklungsphase. Das Fehlen eines standardisierten und messbaren Bauteilauswahlprozesses führt dazu, dass Unternehmen:

Falsche Entscheidungen bei der Teileauswahl treffen
Zeit, Geld und Ressourcen verschwenden
Ineffizienter Umgang mit Veralterungsproblemen

Wir untersuchen die Probleme, die mit einer falschen Teileauswahl verbunden sind, und stellen dynamische und intuitive Lösungen von SiliconExpert vor, die entwickelt wurden, um diese Herausforderungen zu bewältigen.

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"Die Verwaltung und Aktualisierung unserer Komponentendatenbank war eine gewaltige Aufgabe. Unsere Ingenieure benötigen die neuesten Informationen über die elektronischen Komponenten, die wir für unsere Produkte auswählen, und jede Lücke in der Verfügbarkeit oder Aktualität der Daten ist einfach nicht akzeptabel. Ohne die Tools von SiliconExpertwürden wir noch in der Steinzeit leben."

John Starr | Bauteil-Ingenieur | Intermec, Inc.

"Bei der Normalisierung der Prozesse erkannten unsere Teams SiliconExpert als das Werkzeug, mit dem wir in der Phase der Datenumstellung viel mehr erreichen konnten als erwartet. Mit dem Zugang zu einer beispiellosen Menge an unverfälschten und vollständigen Komponentendaten wurde uns sofort klar, wie viel Zeit und Geld wir allein mit dem BOM Manager einsparen konnten. Alles in allem warSiliconExpert die schnellste und beste Lösung."

Erwan Rivet | Direktor für Technik | Honeywell

In der Vergangenheit beschränkten sich die Daten zur Überalterung auf die Statistiken "verfügbar/nicht verfügbar", die direkt von den Teileherstellern bereitgestellt wurden. Die Auswahl der Teile erfolgte mit wenig bis gar keinem Einblick in ihren Veralterungslebenszyklus, so dass die Wahrscheinlichkeit, ein bald veraltetes Teil auszuwählen, gefährlich hoch war. Wir konnten einige Arbeitsstunden einsparen, denn anstatt eine Reihe verschiedener Quellen zu befragen, was sehr zeitaufwändig ist, können wir oft einfach auf SiliconExpert gehen und die benötigten Daten sofort abrufen."

Lenny Tosto | Ingenieur | Northrop Grumman