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ON DEMAND WEBINAR Powered by SiliconExpert

Zuken DS-CRでコンポーネントの陳腐化と可用性を克服する

図研DS-CRとSiliconExpertの連携についてご紹介します。

電子製品を設計・製造する企業が直面する最大の問題の1つは、部品の陳腐化と入手性です。後期のデザインレビューや初期の試験運用で、設計部品に供給上の問題があることを知ることほどつらいことはない。

これらの問題を回避する鍵は、SiliconExpertのような優れたデータソースをECADの部品ライブラリと直接統合することです。 いくつかの利点があります:

  • 部品構造が正しくモデル化されている。ライブラリは、メーカー部品番号、会社部品番号、ECADライブラリ部品とそれらの関係を理解します。
  • SiliconExpertの情報は、ライブラリ構造に直接保存されます。
  • 必要な情報は、回路図上に部品を配置することを決定するオーサリングツールで直接利用することができます。

参加者はデモで何を見るのか。

  • ECADライブラリの部品作成時にSiliconExpertのメタデータを取り込むのがいかに簡単か
  • ライフサイクルデータとパラメトリックデータの両方について、手作業によるデータ入力が不要になることで得られるメリット。
  • 管理されたライブラリデータは、回路図キャプチャなどの下流のオーサリングツールとどのように相互作用するか。

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