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ON DEMAND WEBINAR Powered bySiliconExpert

Zuken DS-CRでコンポーネントの陳腐化と可用性を克服

図研DS-CR統合のご紹介SiliconExpert

電子製品を設計・製造する企業が直面する最大の問題の1つは、部品の陳腐化と入手性です。後期のデザインレビューや初期の試験運用で、設計部品に供給上の問題があることを知ることほどつらいことはない。

このような問題を回避する鍵は、SiliconExpert のような優れたデータソースをECADパーツライブラリと直接統合することです。 いくつかの利点があります:

  • 部品構造が正しくモデル化されている。ライブラリは、メーカー部品番号、会社部品番号、ECADライブラリ部品とそれらの関係を理解します。
  • SiliconExpert の情報はライブラリ構造に直接保存される。
  • 必要な情報は、回路図上に部品を配置することを決定するオーサリングツールで直接利用することができます。

参加者はデモで何を見るのか。

  • ECADライブラリのパーツ作成時に、SiliconExpert メタデータをキャプチャするのがいかに簡単か。
  • ライフサイクルデータとパラメトリックデータの両方について、手作業によるデータ入力が不要になることで得られるメリット。
  • 管理されたライブラリデータは、回路図キャプチャなどの下流のオーサリングツールとどのように相互作用するか。

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