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REACH: EU REACH und Abfallrahmenrichtlinie SCIP Datenbank

Die Europäische Chemikalienagentur ECHA veröffentlicht laufend weitere Informationen und Webinare über die neue SCIP-Datenbank.

REACH: EU REACH und Abfallrahmenrichtlinie SCIP-Datenbank Whitepaper

SCIP ist die Datenbank für Informationen über besorgniserregende Stoffe in Erzeugnissen als solchen oder in komplexen Gegenständen (Produkten), die gemäß der Abfallrahmenrichtlinie (WRRL) für Abfallbetreiber und Verbraucher eingerichtet wurde.

Die ECHA hat einen Prototyp einer Testversion des SCIP für die betroffenen Unternehmen veröffentlicht, um zu zeigen, wie sie ihre Unterlagen und Dossiers bis Februar 2020 melden und vorbereiten können, was für die Hersteller eine zwingende Maßnahme darstellt,

Dieses Whitepaper soll Unternehmen, die von den neuen REACH-Anforderungen betroffen sind, einen Leitfaden an die Hand geben und ihnen zeigen, wie sie sich auf die SCIP-Berichterstattung vorbereiten können.


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"Die Verwaltung und Aktualisierung unserer Komponentendatenbank war eine gewaltige Aufgabe. Unsere Ingenieure benötigen die neuesten Informationen über die elektronischen Komponenten, die wir für unsere Produkte auswählen, und jede Lücke in der Verfügbarkeit oder Aktualität der Daten ist einfach nicht akzeptabel. Ohne die Tools von SiliconExpertwürden wir noch in der Steinzeit leben."

John Starr | Bauteil-Ingenieur | Intermec, Inc.

"Bei der Normalisierung der Prozesse erkannten unsere Teams SiliconExpert als das Werkzeug, mit dem wir in der Phase der Datenumstellung viel mehr erreichen konnten als erwartet. Mit dem Zugang zu einer beispiellosen Menge an unverfälschten und vollständigen Komponentendaten wurde uns sofort klar, wie viel Zeit und Geld wir allein mit dem BOM Manager einsparen konnten. Alles in allem warSiliconExpert die schnellste und beste Lösung."

Erwan Rivet | Direktor für Technik | Honeywell

In der Vergangenheit beschränkten sich die Daten zur Überalterung auf die Statistiken "verfügbar/nicht verfügbar", die direkt von den Teileherstellern bereitgestellt wurden. Die Auswahl der Teile erfolgte mit wenig bis gar keinem Einblick in ihren Veralterungslebenszyklus, so dass die Wahrscheinlichkeit, ein bald veraltetes Teil auszuwählen, gefährlich hoch war. Wir konnten einige Arbeitsstunden einsparen, denn anstatt eine Reihe verschiedener Quellen zu befragen, was sehr zeitaufwändig ist, können wir oft einfach auf SiliconExpert gehen und die benötigten Daten sofort abrufen."

Lenny Tosto | Ingenieur | Northrop Grumman