Whitepaper

REACH: EU REACH und Abfallrahmenrichtlinie SCIP Datenbank

Die Europäische Chemikalienagentur ECHA veröffentlicht laufend weitere Informationen und Webinare über die neue SCIP-Datenbank.

SCIP ist die Datenbank für Informationen über besorgniserregende Stoffe in Erzeugnissen als solchen oder in komplexen Gegenständen (Produkten), die gemäß der Abfallrahmenrichtlinie (WRRL) für Abfallbetreiber und Verbraucher eingerichtet wurde.

Die ECHA hat einen Prototyp einer Testversion des SCIP für die betroffenen Unternehmen veröffentlicht, um zu zeigen, wie sie ihre Unterlagen und Dossiers bis Februar 2020 melden und vorbereiten können, was für die Hersteller eine zwingende Maßnahme darstellt,

Dieses Whitepaper soll Unternehmen, die von den neuen REACH-Anforderungen betroffen sind, einen Leitfaden an die Hand geben und ihnen zeigen, wie sie sich auf die SCIP-Berichterstattung vorbereiten können.

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"Die Verwaltung und Aktualisierung unserer Komponentendatenbank war eine gewaltige Aufgabe. Unsere Ingenieure benötigen die neuesten Informationen über die elektronischen Komponenten, die für unsere Produkte ausgewählt werden, und jede Lücke in der Verfügbarkeit oder Aktualität der Daten ist einfach nicht akzeptabel. Ohne die Tools von SiliconExpert würden wir immer noch in der Steinzeit leben."

John Starr | Bauteil-Ingenieur | Intermec, Inc.

"Bei der Normalisierung der Prozesse erkannten unsere Teams SiliconExpert als das Tool, das uns in der Phase der Datenumstellung viel mehr als erwartet geholfen hat. Mit dem Zugang zu einer beispiellosen Menge an unverfälschten und vollständigen Bauteildaten haben wir sofort erkannt, wie viel Zeit und Geld allein mit dem BOM Manager eingespart werden kann. Alles in allem war SiliconExpert die schnellste und beste Lösung."

Erwan Rivet | Direktor für Technik | Honeywell

In der Vergangenheit beschränkten sich die Daten zur Überalterung auf die Statistiken "verfügbar/nicht verfügbar", die direkt von den Teileherstellern bereitgestellt wurden. Die Auswahl der Teile erfolgte mit wenig bis gar keinem Einblick in ihren Veralterungslebenszyklus, so dass die Wahrscheinlichkeit, ein bald veraltetes Teil auszuwählen, gefährlich hoch war. Wir konnten einige Arbeitsstunden einsparen, da wir, anstatt uns an verschiedene Quellen zu wenden, was sehr zeitaufwändig ist, oft einfach zu SiliconExpert gehen können und die benötigten Daten sofort erhalten.

Lenny Tosto | Ingenieur | Northrop Grumman