电子元件报废给产品设计带来了挑战,而且往往代价高昂。在本白皮书中,我们将回顾 YTEOL 预测策略和 YTEOL 算法的结果。本报告将包括
约翰-斯塔尔 | 零件工程师 | Intermec, Inc.
埃尔万-里弗特 | 工程总监 | 霍尼韦尔
伦尼-托斯托 | 工程师 | 诺斯罗普-格鲁曼公司