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白皮书

YTEOL 预测的可靠性如何?

了解 YTEOL 预测如何积极推动您的报废决策,并发现可用于支持生命周期规划的最佳工具。

YTEOL 预测和可靠性

电子元件报废给产品设计带来了挑战,而且往往代价高昂。在本白皮书中,我们将回顾 YTEOL 预测策略和 YTEOL 算法的结果。本报告将包括

  1. 主动元器件的生命周期管理的解决方案
  2. YTEOL 测试方法
  3. 可靠性结果

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"管理我们的零件数据库并保持其更新是一项艰巨的任务。我们的工程师需要为我们的产品选择的电子元器件的最新信息,任何数据缺少可用性或缺少更新都是不可接受的。 如果没有SiliconExpert的工具,我们可能还生活在石器时代。"

约翰-斯塔尔 | 零件工程师 | Intermec, Inc.

"在规范流程的运动中,我们的团队认识到SiliconExpert是帮助我们在数据过渡阶段取得比预期更多成果的工具。由于可以获得最客观的和最完整的元器件数据, 我们立即意识到仅仅通过BOM管理器就可以节省多少潜在的时间和金钱。考虑到一切,SiliconExpert提出了最快和最好的解决方案。"

埃尔万-里弗特 | 工程总监 | 霍尼韦尔

"过去,陈旧的数据仅限于零件制造商直接提供的可用/不可用的统计数据。在选择零件时,几乎不了解它们的元器件的生命周期,因此,选择即将被淘汰的零件的可能性非常大。我们已经看到了一些很好的节省工时的情况,而不是去找一堆不同的渠道,那是非常耗时的, 我们往往只需要去SiliconExpert,就可以马上得到我们需要的数据。"

伦尼-托斯托 | 工程师 | 诺斯罗普-格鲁曼公司