電子部品の陳腐化は、製品設計に課題をもたらし、多くの場合、コスト高となります。このホワイトペーパーでは、EOL予測戦略と2021年Y-to-EOLアルゴリズムによる結果についてレビューします。本レポートには以下の内容が含まれます:
ジョン・スター | コンポーネントエンジニア|インターメック株式会社
エルワン・リヴェ | エンジニアリング・ディレクター|ハネウェル
レニー・トスト | エンジニア|ノースロップグラマン