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ホワイトペーパー

YTEOL予測の信頼性は？

YTEOL予測がどのように陳腐化の意思決定を促進し、ライフサイクル・プランニングをサポートする最適なツールを見つけることができるかをご覧ください。

YTEOLの予測と信頼性

電子部品の陳腐化は、製品設計にしばしばコストのかかる課題をもたらします。このホワイトペーパーでは、YTEOL予測戦略と当社のYTEOLアルゴリズムによる結果をレビューします。本レポートには以下の内容が含まれます：

プロアクティブな陳腐化管理のためのソリューション
YTEOLテスト方法論
信頼性の結果

ホワイトペーパーダウンロード

「部品データベースを管理し、更新し続けることは大変な作業でした。当社のエンジニアは、製品に使用する電子部品の最新情報を必要としており、データの可用性や鮮度が低下することは許されません。 SiliconExpertのツールがなかったら、私たちはまだ石器時代に生きていたでしょう。"

ジョン・スター | コンポーネントエンジニア｜インターメック株式会社

"プロセスを正規化する動きの中で、私たちのチームは、SiliconExpert 、データ移行の段階で予想以上の成果を上げるのに役立ったツールだと認識しています。比類ない量の偏りのない完全なコンポーネント・データにアクセスすることで、 BOM マネージャーだけで、どれだけの潜在的な時間とコストを節約できるかをすぐに理解できました。すべてを考慮した結果、SiliconExpert は最速かつ最良のソリューションを提示してくれました。"

エルワン・リヴェ | エンジニアリング・ディレクター｜ハネウェル

「以前は、陳腐化データは部品メーカーから直接提供される入手可能か不可能かの統計に限られていました。部品は、その陳腐化ライフサイクルについてほとんど、あるいはまったく理解できないまま選択され、すぐに陳腐化する部品を選択する可能性が危険なほど高いままでした。私たちは、工数を大幅に削減することができました。時間がかかるさまざまな情報源に問い合わせるよりも、 SiliconExpert 、必要なデータをすぐに得ることができるのです。"

レニー・トスト | エンジニア｜ノースロップグラマン