管理陈旧过时的风险

主动式与被动式的报废管理方法

本白皮书还说明了使用元件制造商自己提供的元件生命周期预测数据点与使用基于独立电子元件数据库的算法和历史数据点的预测的风险。随着电子元件数据库的增长和复杂性逐年提高，生命周期预测、智能元件采购和整体淘汰缓解对所有原始设备制造商来说都是唾手可得的。

如何与SiliconExpert一起驾驭过时的障碍

过时是你的敌人。你的盟友是显示如何避免它的数据情报。 加入SiliconExpert的高级产品经理Vern Densler和行业顾问George Karalias的对话，了解如何通过浏览可能隐藏在众目睽睽之下的有价值的供应链数据来减轻过时的影响。

EOL预测的可靠性如何？

电子元件的淘汰给产品设计带来了挑战，往往代价高昂。在这份白皮书中，我们回顾了EOL预测策略和我们2019年Y-to-EOL算法的结果。这份报告将包括：

• 主动报废管理的解决方案
• EOL测试方法
• 2015年可靠度结果

了解EOL预测如何积极地推动你的淘汰决策，并发现可用于支持你的生命周期规划的最佳工具。